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BOB半岛:车载电子AEC-Q100规范的7大类别共41项的测

  AEC Q100是基于失效机理的集成电路应力测试鉴定,由AEC委员会制定,适用于车用 IC 芯片的综合可靠性测试认证标准,是芯片产品应用于汽车领域的基本门槛。首版于1995年发行,并持续更新到2014年的 H 版本,也是目前沿用的标准。AEC Q100标准是芯片产品(依产品类型、封装形貌及取样数量的要求)执行并通过的必要测试项目。

  适用产品:单颗IC,如MCU芯片、MPU芯片、存储类芯片、计算类芯片、安全类芯片、LED类驱动芯片、电源芯片、运算放大器、比较器、感知用模拟芯片、通信类芯片等。

  Delta德尔塔仪器专业致力于关键电子元器件性能及寿命检测设备的研发和制造,符合部分车载电子AEC-Q系列标准认证检测设备要求。

  系列产品应用于各种插头电源线、电线组件、互连电线组件,器具输入插座、器具输出插座、器具插座,电容器(X电容器、Y电容器),隔离电阻器(跨线电阻),变压器/开关电源用变压器,光电耦合器, 电源开关、继电器, 熔断器、热熔断体、熔断电阻器,电位器、定时器、温控器、限温器、热保护器、电,水位开关,旋转开关,传感器,印制线路板,压敏电阻,电动机, 热敏电阻器等进行机械强度测试,额定电压测试,额定电流测试,分断容量测试,负载特性测试,发热(温升)测试,正常操作测试,寿命可靠性测试,机械耐久性测试等试验项目。

  提供电子元器件的检测提供整套测试仪器,可以为各类电子、电器制造厂商提供一下检验测试项目的专业仪器设备:集成电路测试:成品测试、老化筛选、失效分析等;破坏性物理分析:外部目检、X射线检查、粒子噪声(PIND)试验、密封性试验、内部气体成分分析、内部目检、内引线键合强度、扫描电镜、芯片剪切强度;可靠性寿命和老化筛选:老化筛选试验、稳态寿命试验、加速寿命试验、可靠性强化试验;环境试验:正弦振动、随机振动、机械冲击、碰撞(或连续冲击)、恒定加速度、跌落、出点动态监测、温度-振动-湿热三应力试验、高低温低气压、温度循环、热冲击、耐湿、高压蒸煮、盐雾或循环盐雾、霉菌、淋雨、气体腐蚀、沙尘、热真空、强加速稳态湿热(HAST);物理性试验:物理尺寸、耐溶剂性、引出端强度、可焊性、耐焊接热、封盖扭矩、镀层厚度、阻燃性试验。

  引线涂层附着力试验仪/集成电路引线弯曲试验仪满足GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 、GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序、GJB 360A-1996 电子及电气元件试验方法标准要求设计制造;主要用于测定集成电路产品、IC芯片、电子元器件及设备物理性能试验中引线涂覆层附着力检测以及引脚在拉力、弯曲、扭转三种作用力下的形变状态。

  3.弯曲试验:每次对一根引线.动作周期:1s~10s/次(弯曲角度:30°、45°、90°时),精度:±3%;

  8.加载砝码:0.5N、1N 、1.25N 、2.5N、5.0N、10N、20N、40N八个;精度:± 1%;(可据用户要求定制,操作方法以常用砝码说明);

  机械式冲击试验机/加速度冲击试验机能满足国际GB/2423.5-2008电工电子产品环境试验第二部分:试验方法,试验Ea和导则:冲击的要求。用于检测产品运输或使用期间承受的冲击破坏的能力,以此来评定产品结构的抗冲击能力,并通过试验数据,优化产品结构强度,提高产品质量。

  1、本设备使用方便、稳定可靠:冲击碰撞台采用全气压驱动,结构简单、可靠性高、波形好、维护方便,占用面积小。2、冲击、碰撞频次高:由于采用了气压驱动台面,提高了连续冲击试验效率,最大碰撞频次可达:120次/分。频次可以根据用户要求自行调整。

  3、参数调节方便:通过调节气压控制冲击、碰撞的速度,使冲击、碰撞速度调节更方便。可以更方便地实现脉宽和小过载的试验。

  4、技术最新:采用了“先导式高频高速气缸”的新技术,保证系统的安全性和稳定性。填补国内空白,达到国际先进水平。

  5、系统采用国际先进部件:采用日本SMC气动阀、美国PARKER密封件,保障整机系统稳定性和运行可靠。

  7、参数控制方便:试验时间、冲击、碰撞次数通过计算机设定,试验完成后自动停机、完成打印试验报告,方便用户操作。

  1、全机种采用古典力学自由落下方式,用于模拟实际使用环境最为准确;2、平台SRS响应佳,全系列平台皆经过有效元素分析设计,准确性极高;

  设备概述:适用于电子元器件、电池部件、电缆组件、机电产品、汽车零部件、仪器仪表、电子玩具、医药及食品包装…等行业实验室及生产线上对样品进行低频振动试验。如品质鉴定试验,可靠性鉴定试验,耐久试验,振动模态分析,材料特性试验,疲劳试验,振动防治改善等。模拟产品在制造、组装、运输及使用过程中所遭受的振动环境,以评定其结构的耐振性、可靠性和完好性。

  跌落试验机专用于测试产品包装受到坠落之受损情况,及评估运输搬运过程时耐冲击强度。可对包装件的面、角、棱作自由跌落试验,配备数显高度显示仪及采用译码器进行高度跟踪,从而能精确的给出产品跌落高度,与预设跌落高度误差不超过2%或10mm。本跌落试验机采用单柱结构,具有电动复位、电控跌落及电动升降装置,使用方便;跌落高度精准,显示直观,跌落臂升降平稳,跌落角度误差小。设计标准:ISO 2248,JIS Z0202-1994,GB/T4857.5-1992等标准要求。单臂跌落试验机可对包装件的面、角、棱作自由跌落试验,配备数显高度显示仪及采用译码器进行高度跟踪,从而能精确地给出产品跌落高度,与预设跌落高度误差不超过2%或10mm。本机采用单臂双柱结构,具有电动复位、电控跌落及电动升降装置,使用方便;独有的液压缓冲装置大大的提高了机器使用寿命、平稳性及安全性。单臂设置,可方便地放置产品,跌落角度冲击面与底板平面角度误差小于等于50。